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OptoFlat® 高精度低相干干涉儀
OptoFlat? 高精度低相干干涉儀是行業內獨有的低成本、高穩定性以及結構緊湊的平面專用低相干干涉儀。其采用低相干性長壽命633nm的LED光源，波長帶寬1nm。在測量透明材質的雙面平行光學元件的單個表面面型時不會受到其他表面的干涉條紋影響，所以OptoFlat可以排除來自多個表面的干擾，直接測得目標表面的面型精度。對于測量實心玻璃棱鏡的前表面面型時也可以抑制其他反射面的影響。2023-06-01 -
µPhase® UNIVERSAL 100 臥式干涉儀
*用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統
*適合長焦光學零件和系統的檢測
*鏡頭口徑：50mm、100mm或150mm2023-06-01 -
高精度干涉儀 Trioptics μPhase®
用于測量高精度要求的光學零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學表面的前提下對光學表面及波前進行最精確的評價。2023-06-01
面型測試設備(干涉儀)
μPhase®系列干涉儀可對高精度要求的光學零件進行面型測試，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學表面的前提下對光學表面及波前進行最精確的評價。
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