PLI弱吸收測試儀是一款基于熱透鏡效應，對激光光學元件的弱吸收具有高靈敏度的測試儀，可廣泛應用于晶體材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
應用光熱透鏡原理，利用一束泵浦激光照射樣品待測區域，該區域由于熱透鏡效應從而產生表面形變分布或體內折射率梯度分布。同時采用另一束探測激光照射在樣品同一區域，透射過樣品的探測光光熱信號包含表面形變或折射率變化的振幅和相位等信息。光熱信號由光電探測器收集，通過探測光中心光強的變化表征，光熱信號再經鎖相放大器轉換為可分析處理的電信號，最終計算得到被測樣品的吸收值。

儀器布局說明

雙光路集成在一個測試平臺上，方便光源切換，操作便捷。其他雙波長光路結構與上述類似。

PLI 主機帶有電源端口以及通訊端口，通訊端口與鎖相放大器、電腦建立連接，確保數據穩定傳輸。

產品特點

*選用優質光學元件,以最優的價格選配最佳的光學元件，提升PLI系統性能

*功能豐富的測量軟件集成了各組成系統的控制，直觀易用的操作頁面可在過程中同步觀察測量結果

*可根據需求定制多泵浦光源的檢測系統,實現一維、二維吸收及分布的測量

應用領域

*光學、晶體材料吸收

*光學薄膜吸收

*表面缺陷分析(拋光、鍍膜工藝輔助改善、膠合/鍵合質量分析等)

產品技術參數

測試案例