Product Details
產品特點
*用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統
*適合長焦光學零件和系統的檢測
*鏡頭口徑:50mm、100mm或150mm
*平面測量范圍:最大98mm
*半徑測量系統集成導軌和光柵尺
*球面測量范圍:凹面曲率半徑最大-3000mm(提供相應導軌)
*與市場上通用的4英寸標準球面物鏡相兼容
*可選CGH,用于測量非球面、柱面、輪胎面等。
產品參數
產品型號 |
µPhase® UNIVERSAL 100 |
用途 | 研發 |
被測樣品類型 | 平面、球面、環曲面、非球面、柱面 |
被測樣品尺寸(測量范圍) | 最大Ф150mm、樣品大小取決于類型和測試鏡頭 |
被測樣品最大重量 | 1.5kg |
校準工具 | 手動傾斜臺,手動XY工作臺,手動Z軸 |
半徑測量范圍 | 根據測試目標和半徑測量軌道的長度,最長可達2m,集成半徑測量單元,特別是很長的半徑測量 |
半徑測量精度 | 30um |
尺寸(高*寬*深) | 500mm*2500mm*400mm(寬度取決于軌道的長度) |
重量 | 30kg(取決于配置) |
類型 | 臺式設備 |
可選項 | 可選CGH,用于測量非球面,柱面或曲面,可選附加功能,例如多個口徑, Waver、刀具偏置、透射法測量 |
產品中心
PRODUCT CENTER