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生長紋測試儀/紋影儀 GSM 50是一款專業(yè)用于測量透明固體、氣體、液體中因密度梯度導(dǎo)致的折射率變化的設(shè)備，通過先進的紋影法技術(shù)，將微小的折射率差異轉(zhuǎn)化為明顯的明暗對比，實現(xiàn)對被測物密度分布的精確觀測。

CRD-高反射率測量儀是一款專為高精度反射率測量而設(shè)計的先進儀器。該測量儀基于光腔衰蕩法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能夠精確測量各類樣品的反射率，尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品，廣泛應(yīng)用于光學薄膜、精密光學元件等領(lǐng)域，為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

PLI弱吸收測試儀是一款基于熱透鏡效應(yīng)，對激光光學元件的弱吸收具有高靈敏度的測試儀，可廣泛應(yīng)用于晶體材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
應(yīng)用光熱透鏡原理，利用一束泵浦激光照射樣品待測區(qū)域，該區(qū)域由于熱透鏡效應(yīng)從而產(chǎn)生表面形變分布或體內(nèi)折射率梯度分布。同時采用另一束探測激光照射在樣品同一區(qū)域，透射過樣品的探測光光熱信號包含表面形變或折射率變化的振幅和相位等信息。光熱信號由光電探測器收集，通過探測光中心光強的變化表征，光熱信號再經(jīng)鎖相放大器轉(zhuǎn)換為可分析處理的電信號，最終計算得到被測樣品的吸收值。