CRD-高反射率測量儀是一款專為高精度反射率測量而設計的先進儀器。該測量儀基于光腔衰蕩法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能夠精確測量各類樣品的反射率，尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品，廣泛應用于光學薄膜、精密光學元件等領域，為科研與工業生產提供可靠的數據支持。

測量原理

    CRD-高反射率測量儀采用光腔衰蕩法進行測量。儀器內部由兩片高反射鏡M1和M2組成光學諧振腔。當一束脈沖激光沿腔體軸向入射時，忽略衍射及輻射損耗，光脈沖在兩反射鏡之間往返振蕩。探測器接收到的光脈沖信號強度隨時間呈指數衰減，通過精確測量信號衰減時間，結合理論計算，即可準確求出待測樣品的反射率。

產品特點

（一）精準測試波長

• 標準配置：儀器配備1064nm和532nm兩種常用測試波長，滿足大多數高反射率樣品的測量需求。

• 定制服務：根據用戶特定需求，提供其他波長的定制服務，確保儀器適用于各種特殊應用場景。

（二）超寬反射率測量范圍

      測量范圍覆蓋99.9%至99.995%，能夠精確測量不同反射率的樣品，無論是高反膜還是其他精密光學元件，都能提供準確的測量結果。

（三）卓越測量精度

• 高精度測量：對于反射率在99.9%至99.99%之間的樣品，測量精度可達±0.01%；對于反射率高達99.99%的樣品，測量精度更是高達±0.001%，確保測量結果的準確性和可靠性。

• 重復性與穩定性：儀器具備優異的重復性和穩定性，能夠在長時間內保持測量精度，為用戶提供穩定可靠的測量數據。

（四）適用多種樣品規格

• 平面樣品：適用于平面樣品的測量，滿足常規光學元件的測試需求。

• 曲面樣品：對于曲率半徑為500mm的平凹樣品，儀器同樣能夠進行精確測量，拓寬了測量范圍，滿足更多特殊樣品的測試要求。

• 尺寸適配：樣品尺寸范圍從直徑25.4mm至127mm，其他尺寸可根據用戶需求定制，確保儀器能夠適應不同尺寸的樣品測量。

（五）精良配置

• 外觀尺寸：儀器外觀尺寸為950mm×600mm×300mm（具體尺寸以實際產品為準），設計緊湊，便于放置和操作。

• 光學元件：選用高品質光學元件，包括聚焦透鏡、反射鏡等，確保光路的穩定性和測量的準確性。

• 高精度光學儀器：作為高精度光學儀器，建議在潔凈環境下使用，以保證測量結果的準確性。儀器安裝環境應符合相關要求，避免灰塵、振動等外界因素對測量結果產生干擾。

產品參數

配置說明

應用領域

    CRD-高反射率測量儀主要應用于高反膜反射率的測量，尤其適合反射率高于99.9%的樣品。在光學薄膜的研發、生產過程中，該測量儀能夠為薄膜的反射性能評估提供精確數據，幫助科研人員優化薄膜制備工藝，提升薄膜性能。同時，在精密光學元件的檢測中，儀器也發揮著重要作用，確保光學元件的反射率滿足高精度光學系統的設計要求。

測試實例

以下是一個使用CRD-高反射率測量儀進行的測試實例：

• 測量波長：1064nm

• 反射率測量結果：

  • M1：99.99%

  • M2：99.995%