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ImageMaster® PRO 10 Wafer 工業型光學傳遞函數測量儀 (鏡頭和晶圓專用)

設計ImageMaster??PRO 10 Wafer 以滿足新一代晶圓級鏡頭在生產過程中的成像質量保證要求。
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Product Details

設計ImageMaster® PRO 10 Wafer 以滿足新一代晶圓級鏡頭在生產過程中的成像質量保證要求。

 

產品特點

測量精度為0.8%軸上MTF和1.5%軸外MTF

每個樣品的測量時間為1.3秒(2700 UPH)

晶圓彎曲度和高精度FFL( 法蘭焦距)測量

晶圓尺寸:最大8英寸/200mm(矩形或圓形 )

傾斜校正功能(彎曲度補償 )

帶有動態安裝和晶圓旋轉、移位調整工具，可實現輕松裝載

測量可溯源至國際標準
可與潔凈空兼容

 

產品型號及技術指標

產品型號 ImageMaster® PRO 10 Wafer
設備類型 臺式設備
光路設置 無限-有限共軛
最大空間頻率 600lp/mm
軸上MTF測量精度 0.8%MTF(高達350lp/mm)①
軸外MTF測量精度 1.5%MTF(高達350lp/mm)①
有效焦距測量精度 5um/0.3%
法蘭焦距測量精度 4um
軸上測量時間 1.3s②
所有離軸曲線測量時間 1.3s②
每個樣品的分揀時間 ----
樣品吞吐量(每小時產出) 2700UPH④
測量點 53(27個現場位置/攝像機②)
尺寸(高X寬X深) 1570mmX1340mmx810mm
重量 240kg
托盤尺寸 托盤150mmx150mm
樣品架/托盤 三點運動安裝托盤,具有經過認證的晶圓參考平面度
樣品質量等級 4級
潔凈室等級FS209/IS014644-1 100/IS05
光源 鹵素光源(白色LED可選)
濾光片 可見光(近紅外可選)-盡可能所有鴻光片-標準適光眼濾光片
ACM 安裝自準直儀

 

備注：①.根據MTF峰值測量精度；②.取決于樣品；④.1個托盤包括148個樣品/托盤更換時間5秒

 

產品中心

PRODUCT CENTER