|超精密光學檢測設備提供商
產品中心
PRODUCT CENTER
高反射率測量儀
CRD-高反射率測量儀是一款專為高精度反射率測量而設計的先進儀器。該測量儀基于光腔衰蕩法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能夠精確測量各類樣品的反射率，尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品，廣泛應用于光學薄膜、精密光學元件等領域，為科研與工業生產提供可靠的數據支持。
CRD-高反射率測量儀采用光腔衰蕩法進行測量。儀器內部由兩片高反射鏡M1和M2組成光學諧振腔。當一束脈沖激光沿腔體軸向入射時，忽略衍射及輻射損耗，光脈沖在兩反射鏡之間往返振蕩。探測器接收到的光脈沖信號強度隨時間呈指數衰減，通過精確測量信號衰減時間，結合理論計算，即可準確求出待測樣品的反射率!CRD-高反射率測量儀是一款專為高精度反射率測量而設計的先進儀器。
【相關資訊】
2025-03-07
2025-03-06
2025-03-04
2025-03-03
2025-03-03
2025-02-28
2025-02-27
2025-02-27
2025-02-26
2025-02-26
2025-02-25
2025-02-25
2025-02-24
2025-02-24
2025-02-24
2025-02-21
2025-02-20
2025-02-20
2025-02-19
2025-02-19
2024-09-11
2024-04-19
2024-04-02
2024-03-31
2024-03-29
