波前傳感器 WaveSensor®
可用于激光光束質量及其動態變化的診斷、光學系統像質的檢驗、介質擾動對光束質量影響的測量、大型球面鏡鏡面面形精度的檢測等深入研究激光光束和光學系統質量及其動態變化過程、分析影響因素的有力手段
Product Details
擅長為客戶的所有需求提供最前沿的技術WaveSensor® 波前傳感器 系列產品是應用夏克—哈特曼傳感器的測量原理研制而成的,并配備專門的操作與分析軟件,可用于激光光束質量及其動態變化的診斷、光學系統像質的檢驗、介質擾動對光束質量影響的測量、大型球面鏡表面面形精度的檢測等。利用WaveSensor®可獲得豐富的光束質量及空間、時間信息,是深入研究激光光束和光學系統質量及其動態變化過程、分析影響因素的有力手段,因此WaveSensor®已成為檢測各類大型反射鏡面形的一種專用設備。
產品特點
*常規光學元件面形檢測(平面、球面、透鏡等)
*大口徑光學元件檢測
*光學系統像差檢測
*激光器輸出波面檢測
*光束質量診斷
*光束動態變化測
*自適應系統的波前探測
產品型號及技術指標
產品型號 | WaveSensor® 150 |
孔徑尺寸 | 15mm×15mm |
陣列透鏡數 | 138×138 |
動態范圍 | 2000λ |
傾斜測量靈敏度 | < 1μrad |
絕對精度(RMS) | < λ/20 |
重復性(RMS) | < λ/200 |
波長 | 405...1100nm(可擴展至350nm) |
接口類型 | IEEE1394B |
產品尺寸 | 74mm×100mm×144mm |
產品重量 | 1000g |
產品中心
PRODUCT CENTER