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零鏡透射波前測量儀ANI-Z1：可批量快速地進行非球面透鏡的特性評估

    在現代光學工程領域，精確測量和評估光學元件的性能是至關重要的。隨著技術的進步，零鏡透射波前測量儀ANI-Z1可批量快速地進行非球面透鏡的特性評估。本文將詳細介紹ANI-Z1的工作原理、技術優勢及其在實際應用中的表現。

 

零鏡透射波前測量


    零鏡透射波前測量儀通過使用零反射鏡作為參考透鏡，能夠精確測量非球面透鏡的透射波前。這一技術的核心在于其能夠通過跟蹤來自參考鏡頭的點圖像，進而根據ZERNIKE系數的每個條款計算出用于評估鏡頭的各種參數。這種方法不僅提高了測量的準確性，而且能夠揭示僅通過形狀評估無法檢測到的鏡片內部問題，從而為光學元件的優化提供了更為詳盡的數據支持。


    零鏡透射波前測量儀采用了載波條紋法中的分析方法，這一方法能夠從單個圖像計算波前，極大地減少了外部振動對測量結果的影響。即使在圖像采集時間僅為0.2秒的情況下，也能有效抑制振動，確保了測量的精確性。這種技術的應用，使得在加工現場和調整過程中進行實時測量成為可能，極大地提高了工作效率和測量精度。


    此外，零鏡透射波前測量儀的測量系統設計緊湊，操作簡便，不僅適用于實驗室環境，也適合在生產現場使用。其高精度和高穩定性的特點，使其成為光學元件制造商和研究機構的首選工具。通過使用零鏡透射波前測量儀ANI-Z1，用戶可以快速準確地評估透鏡的光學特性，及時調整生產工藝，確保產品質量。


    零鏡透射波前測量儀ANI-Z1以其獨特的技術優勢，為光學特性的評估提供了一種高效、精確的解決方案。ANI-Z1的應用很廣泛，在提高光學元件性能和質量控制方面的潛力不容小覷。

創建時間：2024-06-17 14:09
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