研發型高精度光學傳遞函數測量儀 ImageMaster®Universal
ImageMaster?Universal系列可以在很寬的光譜范圍內測量幾乎所有類型系統的光學參數。不論是高性能攝影成像鏡頭還是高分辨率望遠鏡,紅外波段、可見光還是紫外波段,都可被精確測量。
Product Details
德國TRIOPTICS GmbH設計的ImageMaster® Universal 研發型高精度光學傳遞函數測量儀是ImageMaster®光學傳遞函數測量儀系列中的頂級產品,可以測量幾乎所有類型光學系統的光學參數。
產品特點
*臥式結構,全自動測量
*可測量直線構型系統、L形構型系統、U形構型系統、空間折轉型系統等
*模塊化設計、一體化運輸,維護保養方便
*平行光管基于離軸拋物面反射鏡的設計,覆蓋全波段使用
*整機配備鋁質外殼,隔光擋風
*模塊化靶標發生器及探測器,可快速切換
*測量精度可溯源至國際標準
*軟件模塊化,使用簡單易懂
*可編輯腳本,實現用戶自定義測量
*直接以報告形式輸出結果
測量參數
*F數
*場曲
*焦深
*色差
*像散
*畸變
*視場角
*相對照度
*相對透過率
*主光束角度
*點擴散函數PSF
*線擴散函數LSF
*相位傳遞函數PTF
*有效焦距EFL
*離焦光學傳遞函數MTF
*軸上/軸外光學傳遞函數MTF
產品參數
系統配置 | 無限-有限共軛系統、有限-有限共軛系統、無焦系統 |
光譜范圍 | UV(250...450nm)、VIS(450...700nm)、NIR(700...1000nm)、SWIR(1000...2500nm)、MWIR(3...5μm)、LWIR(7...13μm) |
樣品焦距范圍 | 5...2000mm(可擴展) |
最大通光口徑 | 450mm(可擴展) |
最大離軸角度 | ±120°(可擴展至±180°) |
EFL測量精度 | ±0.3% |
MTF測量精度 | ±0.02MTF(軸上)、±0.03MTF(軸外) |
MTF測量重復性 | ±0.01MTF |
最大空間頻率? | UV( 100lp/mm)、VIS~NIR(500lp/mm)、SWIR(120lp/mm)、MWIR(80lp/mm)、LWIR (60lp/mm) |
樣品承載重量 | 20kg |
測量方位角 | 360° |
* 可根據客戶需求定制其他產品 ? 最大空間頻率可能隨被測樣品和光管的焦距比而變化
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